“Determinación de las constantes ópticas y el espesor de películas delgadas semiconductoras depositadas por pulverización catódica de radio frecuencia sobre substratos ligeramente absorbentes en la región visible”

Añadido por asistente1@acuedi.org - Feb 5, 2014 - Ciencias e ingeniería

Descripción

Este trabajo brinda un método iterativo para determinar las constantes ópticas y el espesor de películas delgadas cuando éstas son depositadas sobre substratos gruesos ligeramente absorbentes y a través de una medida de transmisión. Se desarrolló la expresión analítica del espectro de transmitancia  de la película y del substrato para el caso de incidencia normal de luz. El método iterativo se construye usando el programa Mathematica 7.0 y es puesto a prueba usando simulaciones y medidas reales de espectros de transmisión.


Tucto Salinas, K. (2012). “Determinación de las constantes ópticas y el espesor de películas delgadas semiconductoras depositadas por pulverización catódica de radio frecuencia sobre substratos ligeramente absorbentes en la región visible”. Lima (PUCP): Tesis para optar el Título de Licenciada en Física.

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