Descripción
Este
trabajo brinda un método iterativo para determinar las constantes ópticas y el
espesor de películas delgadas cuando éstas son depositadas sobre substratos
gruesos ligeramente absorbentes y a través de una medida de transmisión. Se
desarrolló la expresión analítica del espectro de transmitancia de la película y del substrato para el caso
de incidencia normal de luz. El método iterativo se construye usando el
programa Mathematica 7.0 y es puesto a prueba usando simulaciones y medidas
reales de espectros de transmisión.
Tucto
Salinas, K. (2012). “Determinación de las
constantes ópticas y el espesor de películas delgadas semiconductoras
depositadas por pulverización catódica de radio frecuencia sobre substratos
ligeramente absorbentes en la región visible”. Lima (PUCP): Tesis para
optar el Título de Licenciada en Física.
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